Эллипсометрическая характеристика легированных и нелегированных кристаллических структур алмаза

| 733 Время чтения:

Характеристика алмазных слоев с помощью SE: кристаллические нелегированные алмазные слои на кремниевой подложке.

Алмаз известен своей твердостью, поэтому он используется в промышленности в режущих и полировальных инструментах. Однако этот материал имеет несколько других замечательных свойств, таких как оптическая прозрачность, химическая стабильность, термическая и электрическая проводимость, которыми можно управлять путем введения примесей в кристаллическую решетку чистого алмаза.

Благодаря этим свойствам алмаз считается привлекательным для различных областей техники. Его можно использовать в качестве детектора света в медицинских приложениях, разработке имплантатов, служащих полупроводниковыми интерфейсами с живыми тканями для биологических приложений. Кроме того, некоторые примеси, присутствующие в кристаллической решетке алмаза, известные как центры окраски, способны испускать свет. Следовательно, фотолюминесцентные наночастицы алмаза используются в качестве маркеров в технологии биоизображения, а также в качестве детекторов слабых магнитных полей в нанометровом масштабе.

В данной работе спектроскопическая эллипсометрия используется для исследования оптических и структурных свойств кристаллических легированных и нелегированных слоев алмаза. Эта информация важна для оптимизации эффективности этих слоев, когда они задействованы в различных типах устройств.


Более подробную информацию Вы можете получить по ссылке ниже:

Ellipsometric Characterization of Doped and Undoped Crystalline Diamond Structures

Вернуться |

Задайте свой вопрос

Статьи

Металлы износа в маслах
Lubricating oils are used in very difficult conditions in engines reaching high temperatures and varying pressure
conditions in contact with many metallic parts.
Выбор и приобретение ICP спектрометра.
Ключевые параметры по выбору ICP
Двойной обзор плазмы
Расходные материалы
Спектральное разрешение
Сточные воды и анализ почвы
Анализ пяти различных проб сточных вод и почвы
Измерение толщины углеродных покрытий
Анализ толщины и оптических постоянных аморфных углеродных покрытий методом спектральной эллипсометрии
Обзор технологии фазовой модуляции
Фазовая модуляция позволяет достичь большей чувствительности в определении характеристик толщины и оптических постоянных тонких пленок в сравнении с традиционными эллипсометрами.
Количественный анализ почвенных экстрактов
The ICP technique is widely accepted in agriculture institutions for the determination of major and minor elements in soils and plant, heavy metal content in soils, receiving industrial waste and environmental monitoring of soils.
ICP Повторяемость следовых и основных элементов в воде
This application note examines the analysis repeatability of trace and major levels of elements in a water sample.
Точный анализ агрегации белков
Агрегация белков - важная проблема при разработке и производстве биотерапевтических средств.
Анализ смазочных масел
The spectrometric analysis of lubricating oil is common practice where large amount of lubricating oils are involved or where engine wear is critical.
Новости 1 - 20 из 29
Начало | Пред. | 1 2 | След. | Конец