Комплексы для тестирования многоэлементных и одноэлементных датчиков изображения

Команда ООО «Фотоникс Инструментс»  имеет большой накопленный опыт поставок кастомизированных комплексов для тестирования параметров многоэлементных и одноэлементных датчиков изображения, таких как спектральная плотность энергетической освещенности СПЭО и др. Характеристики и комплектность каждой системы оптимизировались в сотрудничестве с нашими Заказчиками на этапе формирования заказа с целью наиболее полного соответствия поставляемых систем целям и задачам проводимого тестирования.

Один из таких комплексов схематически представлен на рис.ниже. 

Комплекс предназначен для тестирования светочувствительных датчиков изображения в спектральном диапазоне 200нм-2500нм и выполнен на базе автоматизированного монохроматора-спектрографа М300 и инновационного ультраяркого плазменного источника света модели производства ООО «Троицкий инженерный центр».

Блок питания, встроенный в излучающую головку источника света XWS-30, исключает необходимость его юстировки при инсталляции. Малый размер светящейся области плазмы (100х200мкм), высокая спектральная яркость и широкий спектральный диапазон, а также рекордный срок эксплуатации до 10 000 часов и высокая пространственно-временная стабильность определяют популярность XWS-30 для целого ряда применений, включая цели и задачи метрологии.

Комплекс включает узел фокусировки излучения источника света на входную щель М300, автоматизированное колесо фильтров разделения спектральных порядков, установленное на входную щель монохроматора-спектрографа М300, автоматизированное колесо для фильтров переменной оптической плотности, установленное на выходную щель, а также узел фокусировки выходного излучения на исследуемый детектор.

Оба узла фокусировки выполнены на базе асферической зеркальной оптики, не имеют аберраций хроматизма и астигматизма.

Комплекс полностью автоматизирован, включая управление сканированием и сменой дифракционных решеток, регулировку ширины спектральных щелей, смену выходных портов, управление фильтрами разделения порядков и шаттром для регистрации темнового сигнала.

Комплекс поставляется установленным на единой плите, снабженной удобными ручками для удобства перемещения и установки.

Приборные комплексы могут при необходимости поставляться со Свидетельством о Калибровке, выданным уполномоченным органом – Центром «Испытаний лазерной техники» государственного научного учреждения Институт Физики имени Б.И.Степанова Национальной Академии Наук Беларуси. Все измерения, производимые Центром «Испытаний лазерной техники» государственного научного учреждения Институт Физики имени Б.И.Степанова Национальной Академии Наук Беларуси, имеют прослеживаемость к единицам Национального эталона единиц СПЭО и СПЕЯ Российской Федерации, а также к единицам международной системы SI, которые воспроизводятся национальным эталоном Республики Беларусь.