Измеритель длины волны WLMeter

·         Точность до ± 3пм в диапазоне длин волн 190-1200нм 

·         Измерение длины волны непрерывных и импульсных лазеров и диодов

·         Мониторинг длины волны, FWHM и формы спектра во времени

·         Ввод излучения через многомодовое волокно и диффузный аттенюатор (в комплекте), либо прямой ввод излучения в прибор

·         Надежность и долговременная стабильность

·         Питание и управление через USB интерфейс 

WLMeter позволяет в реальном масштабе времени определять абсолютное значение длины волны с самой высокой точностью до ± 3пм в широком диапазоне от 190нм до 1200нм без необходимости использования внутреннего калибровочного стандарта.

В измерителях длины волны серии WLMeter используется технология на основе дифракционной решетки, работающей в высоких порядках спектра.

В отличие от приборов интерферометрического типа, WLMeter в единой стандартной конфигурации работает в УФ и ИК диапазонах спектра, визуализирует форму спектральной линии и FWHM, может быть синхронизирован от лазера импульсами TTL-уровня. Для ввода излучения в прибор используется стандартное многомодовое оптическое волокно. Для удобства ввода WLMeter содержит в комплекте УФ-волокно и аттенюатор с регулируемым ослаблением. Прибор также способен выполнять анализ без использования волокна, путем прямого ввода излучения в прибор.

В отличие от интерферометров, WLMeter является значительно более доступным по цене.

Вы можете проверить точность калибровки спектрометра, а также при необходимости откорректировать ее в условиях любой лаборатории или на производственной линии с использованием либо He-Ne лазера с длиной волны 632,816нм, либо широко доступной ртутной линии 546,073нм, имеющейся в спектрах ртутных ламп и любых источников дневного света. Выбор длины волны коррекции осуществляется на этапе формирования заказа.

Чувствительный и компактный измеритель длины волны WLMeter наилучшим образом дополнит оборудование Вашей лаборатории и станет незаменимым средством контроля длины волны в процессе перестройки лазерного излучения, при юстировке лазерных систем, а также для мониторинга температурных и временных вариаций спектрального состава излучения лазеров и диодов.