Это исследование показало возможность определения оптических констант тонких пленок C60 и C70 в диапазоне 0,6-6,5 эВ с помощью спектроскопической эллипсометрии. После сбора необработанных эллипсометрических данных Is и Ic простая инверсия данных для определения псевдодиэлектрической функции приводит к получению ценной информации, которая помогает в построении подходящей модели для анализа эллипсометрических данных.
В этом случае псевдодиэлектрическая функция обеспечивала начальные значения энергии для пиков поглощения, наблюдаемых как в тонких пленках C60, так и в C70, и это позволяло использовать дисперсию, состоящую из суммы осцилляторов Тауца-Лоренца. Кроме того, эллипсометрический анализ позволил определить толщину тонких пленок C60 и C70, а также значение ширины запрещенной зоны для каждой из них.
Более того, поскольку спектроскопический эллипсометр HORIBA Scientific UVISEL 2 с фазовой модуляцией не имеет движущихся частей во время сбора данных, сбор отражений на задней стороне от стеклянной подложки был включен и учтен в модели с помощью специальной функции программного обеспечения HORIBA Scientific DeltaPsi2.
Фуллерены C60 (а) и C70 (б).
Более подробную информацию Вы можете получить по ссылке ниже:
An Ellipsometric Study of the Optical Constants of C60 & C70 Thin Films
