Для многих новых приложений поверхность нанокристаллов функционализирована полимерами, чтобы контролировать самосборку, предотвращать агрегацию и способствовать включению в полимерные матрицы и биологические системы. Гидродинамический диаметр этих комплексов наночастица-полимер является критическим фактором для многих приложений, и прогнозирование этого размера осложняется тем фактом, что структура многих привитых полимеров на границе нанокристаллов обычно не устанавливается.
Одним из параметров, который помогает выяснить структуру поверхности, является толщина полимерной пленки. В этом исследовании полистирол на нанокристаллах CdSe был оценен с помощью спектроскопической эллипсометрии, неразрушающего оптического метода, предназначенного для определения характеристик тонкопленочных структур. Спектроскопическая эллипсометрия обычно определяет толщину пленки, оптические константы (n, k), информацию о неоднородности слоя и структуре материала.
Более подробную информацию Вы можете получить по ссылке ниже:
Characterization of Engineered nanomaterials by Spectroscopic Ellipsometry
