Гибридные органо-неорганические перовскитные материалы появились за последние пять лет в качестве многообещающих поглощающих слоев для новых высокоэффективных и недорогих солнечных элементов, сочетающих в себе преимущества органических и неорганических полупроводников. Возрастающий интерес к этой технологии подталкивает исследовательские лаборатории к поиску оптимальных методов для точного определения оптоэлектронных свойств этих материалов.
Спектроскопическая эллипсометрия (SE) оказалась эффективным методом изучения оптического отклика этого нового класса материалов. Действительно, такие свойства, как оптическое поглощение и запрещенная зона, имеют решающее значение для эффективной конструкции фотоэлектрических устройств. В этой заметке представлено исследование методом SE наиболее распространенной тонкой пленки перовскита метиламмоний иодида свинца (CH3NH3PbI3). Мы демонстрируем эффективность SE для характеристики слоев, нанесенных с использованием различных методов, показывая влияние осаждения на структурные свойства материала, а также ключевую роль этого метода определения характеристик для изучения разрушения перовскитных слоев после воздействия воздуха.
Более подробную информацию Вы можете получить по ссылке ниже:
Determination of Perovskite Optical Constants by Spectroscopic Ellipsometry
